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PCT高壓加速老化試驗箱

測試密封裝置耐濕氣能力,待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿著膠體與導線架子接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線路板,多層線路板IC,LCD,磁性材料等產品之密封性能的檢測,目的是提高環境應力(如:溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷等),加快試驗過程,縮短產品或系統的壽命試驗時間。

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產品介紹:

型號

XK-PCT-250

XK-PCT-350

XK-PCT-450

XK-PCT-550

XK-PCT-250 M

XK-PCT-350 M

尺寸(cm

內箱

Φ25×D35

Φ30×D45

Φ40×D55

Φ50×D60

Φ25×D35

Φ30×D45

外箱

W56×H65×D105

W66×H105×D125

W76×H115×D135

W860×H135×D145

W56×H65×D105

W66×H105×D125

溫度范圍

110~132

濕度范圍

100%RH飽和蒸汽

壓力范圍

表壓力﹢0.2~2.0Kg/cm2

加壓時間

大約45分鐘

控制器

 微電腦飽和蒸發溫度﹢時間﹢壓力顯示獨立控制器

分辨率

溫度:0.1壓力:100%

 溫度波動

溫度:±0.5,濕度:100%

 內箱

SUS316    不銹鋼

 外箱

冷軋鋼板烤漆或不銹鋼(依客戶選擇)

 

水蒸氣自然對流循環

安全保護

感溫器檢測保護,第一階段高溫保護,第一階段高壓保護,箱門壓力限制,水箱缺水報警斷電,溫度加熱器保護,

濕度加濕器保護, 第二階段高溫保護  第二階段高壓保護,第一階段緊急泄壓保護,手動泄壓保護,自動泄壓



滿足標準:

  IEC60068-2-66

  JESD22-A102-B

  EIA/JESD22及指定的試驗條件

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