HAST高壓加速老化試驗箱

HAST高壓加速老化試驗箱適用于測試密封裝置耐濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿著膠體與導線架子接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線路板，多層線路板IC,LCD,磁性材料等產品之密封性能的檢測，目的是提高環境應力（如：溫度）與工作應力（施加給產品的電壓、負荷等），加快試驗過程，縮短產品或系統的壽命試驗時間。